多功能反射谱仪(MR)采用时间分辨方法在探测器上记录反射中子，从而得到中子反射率R随动量转移矢量Qz的变化关系，通过分析中子反射率曲线就能够得到薄膜的厚度、界面粗糙度、以及散射长度密度的分布。当采用极化中子测量模式时，可以得到磁性沿垂直膜面方向的分布，同时还可以进行温度、磁场、电场等原位条件下表面及界面磁性的表征。
