微小角中子散射（VSANS）谱仪可同时测量样品内部0.4-1000 nm的微、介观结构，由广东省科技厅资助，是世界上第一台基于散裂中子源的微小角中子散射谱仪。谱仪设计多种实验模式：常规SANS模式下，谱仪准直长度从2.49米到12.75米灵活可变，三组探测器可同时采集从0.12度到35度的散射中子；VSANS模式下，多狭缝聚焦将最大研究尺度从100纳米左右扩展到几百纳米到1微米；极化模式可观测材料中大尺度自旋磁结构；掠入射模式可研究薄膜或表面面内结构。谱仪已于2024年3月正式对外开放运行，将为粤港澳地区产业结构升级和我国基础和应用科学研究提供有力支撑 (J. Appl. Cryst. 57, 380, 2024.)
