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设备展示

超导磁体SM1及超快光学测试系统

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本设备由2.54?mm低温口径的超导磁体、超快飞秒激光器、多功能样品、超快光路、超快光谱探测系统组合而成。

基本参数:磁场强度0~7?T;温度范围4.2~300?K;光源脉宽100?fs;波长24~2600?nm。

基本功能:磁场下磁光Kerr/Faraday谱;磁场下二次谐波谱(MSHG);磁场下太赫兹时域谱(THz-TDS);磁场下光/电致发光谱。[注:以上四个功能所适用的光谱范围和磁场范围有所不同]。

适用样品:单晶、薄膜(要求表面平整,尺寸>2*2?mm2)。