????本系统包括52.8?mm低温口径的超导磁体，扫描隧道显微镜（STM）、磁力显微镜（MFM）和原子力显微镜（AFM）组合而成的显微系统（SMA）。
参数：STM（原子分辨率）、MFM（10 nm）和AFM（原子分辨率）组合在一个镜体上，并置于18/20?T?高场磁体的低温孔径中，可对样品进行0~18/20?T变场和7~300?K变温测量，不仅可以提高机时的使用效率，还可以根据这三种扫描探针显微镜的不同成像特点，从不同侧面研究样品。
应用：该系统适用于磁性材料、超导、拓扑材料、低维材料、单晶块材、单晶薄膜以及分散密度合适的纳米结构等材料的变温-变场表征。
